其他专用机械行业：从KLA成长路径看半导体检测设备国产替代进程-210911（24页）

行业研究

科技传媒

标注日期 2021-09-1124页

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报告摘要

电子束图形圆片缺陷检测设备是一种利用扫描电子显微镜在前道工序中对半导体圆片上的刻蚀图形直接进行缺陷检测的工艺检测设备。其原理为通过聚焦电子束对圆片表面进行扫描，接受反射回来的二次电子和背散射电子，进而.

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